FSM探針顯微鏡
本款探針顯微鏡適應(yīng)于半導(dǎo)體行業(yè)對(duì)晶圓的探測(cè)檢測(cè)，除了適用于可見(jiàn)光以外， 紫外和紅外也是可以應(yīng)用。成像質(zhì)量好， 透過(guò)率高。
本款探針顯微鏡匹配各種探針臺(tái)對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)對(duì)晶圓等工業(yè)領(lǐng)域的檢測(cè)，除了適用于可見(jiàn)光以外， 紫外和紅外也是可以應(yīng)用，355nm, 365nm, 532nm, 1064nm光譜性能優(yōu)異，對(duì)激光閾值高的必須跟廠家確認(rèn)。成像質(zhì)量好， 透過(guò)率高。